德國菲希爾 XRF能量色散X射線熒光分析儀

您的需求是我們的動力–Fischer XRF測量技術的好處一目了然

我們有您需要的：在X射線熒光分析（XRF分析）領域擁有多年的綜合專業知識！您將獲得最佳解決方案，尤其是針對您的測量任務–我們承諾！

FISCHER的XRF測量原理–其工作原理如下：

XRF能量色散X射線熒光分析儀 快速、簡單、無損-這是采用Fischer XRF測量技術的XRF分析代表的意義！X射線束使測量樣品中的原子電離。探測器檢測發生的熒光輻射，內部開發的軟件處理信號。

設置FISCHER XRF測量儀器–這就是獲得最佳測量結果的方式：

必須注意細節：衡量成功與否與每個組成部分都息息相關！

X射線管和陽極材料：
小零件，有大影響！XRF設備的“心臟"，即X射線發生器，由一個帶有鎢、銠、鉬或鉻陽極的標準或微聚焦射線管組成。這些部件決定了達到哪種測量精度和哪種能譜。

濾波器：
只有必要的東西才能通過：X射線束通過濾波器，以降低相關能量范圍內的背景噪聲，從而對來自僅以低濃度存在的材料的信號實現更高的靈敏度。

孔徑和X射線光學元件：
菲舍爾的聚焦！作為全球僅有的兩家多毛細管光學器件的制造商之一，我們能夠將大部分初級輻射集中在一個微小的測量點上。

 探測器：

只有在Fischer，您可以選擇3種不同的探測器類型，以實現測量任務的最佳解決方案：比例計數管、硅PIN二極管和硅漂移探測器。

X射線熒光分析的基礎和最重要的儀器性能在過去，

X射線熒光分析（XRF）主要用于地質學。如今，它已成為工業和實驗室的關鍵技術。這種方法非常通用：它可以檢測從鈉到鈾的所有相關化學元素

XRF通常用于材料分析，即確定樣品中給定物質的含量，如測量珠寶中的黃金含量或根據《有害物質限制》（RoHS）指令檢測日常物品中的有害物質。此外，可以使用XRF測量鍍層的厚度：它快速、環保且無損。這就是測量是如何進行的當X射線設備開始測量時，X射線管會發出高能輻射，這也被稱為‘初級’輻射。當這些X射線擊中樣品中的一個原子時，它們會增加能量–即它們“激發"原子 - 使原子向其原子核附近發射電子，這個過程被稱為“電離"。由于這種狀態是不穩定的，一個來自更高電子層的電子移動來填充空隙，從而發射出“熒光"輻射。

這種二次輻射的能量水平類似指紋一樣：它是每個元素的特征。探測器接收熒光并將信號數字化。在信號經過處理后，設備產生一個光譜：檢測到的光子的能級在x軸上繪制，其頻率（計數率）在y軸上繪制。樣品中的元素可以從光譜中波峰的位置（x軸方向）來識別。這些峰的水平（y軸方向）提供了有關元素濃度的信息。